Стенд для измерения в СВЧ диапазоне электрофизических характеристик наноматериалов
Назначение
Исследования наноматериалов в СВЧ диапазоне
Характеристики
Позволяет проводить измерение электрофизических параметров наноматериалов в диапазоне частот 2-78 ГГц резонансными методами. Разработаны физические основы измерения параметров искусственных композитных материалов в высокодобротных резонаторах: диэлектрических потерь (комплексной, действительной и мнимой части диэлектрической проницаемости).
В состав стенда входят:
Исследования наноматериалов в СВЧ диапазоне
Характеристики
Позволяет проводить измерение электрофизических параметров наноматериалов в диапазоне частот 2-78 ГГц резонансными методами. Разработаны физические основы измерения параметров искусственных композитных материалов в высокодобротных резонаторах: диэлектрических потерь (комплексной, действительной и мнимой части диэлектрической проницаемости).
В состав стенда входят:
- Генератор СВЧ
- Вентиль
- Направленный ответвитель
- Головка детекторная
- Электронно-счетный частотомер
- Высокодобротный резонатор с разряженным спектром собственных частот
